電源電路板維修，你知道幾個(gè)方法？
作者：admin 發(fā)布日期：2023/8/7 關(guān)注次數(shù)：
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電路板產(chǎn)品的名稱(chēng)有：陶瓷電路板，氧化鋁陶瓷電路板，氮化鋁陶瓷電路板，線(xiàn)路板，PCB板，鋁基板，高頻板，厚銅板，阻抗板，PCB，超薄線(xiàn)路板，超薄電路板，印刷（銅刻蝕技術(shù)）電路板等，電源電路板。PCB電路板使電路迷你化、直觀(guān)化，對(duì)于固定電路的批量生產(chǎn)和優(yōu)化用電器布局起重要作用。
一、帶程序的芯片
1、EPROM芯片一般不宜損壞。因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序， 故在測(cè)試中不會(huì)損壞程序。但有資料介紹：因制作芯片的材料所致，隨著時(shí)間的推移（年頭長(zhǎng)了），即便不用也有可能損壞（主要指程序）。所以要 盡可能給以備份。
2、EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片，均極易破壞程序。這類(lèi)芯片 是否在使用<測(cè)試儀>進(jìn)行VI曲線(xiàn)掃描后，是否就破壞了程序，還未有定論。盡管如此，同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí)，還是小心為妙。筆者曾經(jīng)做過(guò) 多次試驗(yàn)，可能大的原因是：檢修工具（如測(cè)試儀，電烙鐵等）的外殼漏電 所致。
3、對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來(lái)。
二、復(fù)位電路
1、待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí)，應(yīng)注意復(fù)位問(wèn)題。
2、在測(cè)試前最好裝回設(shè)備上，反復(fù)開(kāi)，關(guān)機(jī)器試一試。以及多按幾次復(fù)位鍵。
三、功能與參數(shù)測(cè)試
1、<測(cè)試儀>對(duì)器件的檢測(cè)，僅能反應(yīng)出截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)。但不 能測(cè)出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等。
2、同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言，也只能知道有高低電平的輸出變化。而無(wú) 法查出它的上升與下降沿的速度。
四、晶體振蕩器
1、通常只能用示波器（晶振需加電）或頻率計(jì)測(cè)試，萬(wàn)用表等無(wú)法測(cè)量， 否則只能采用代換法了。
2、晶振常見(jiàn)故障有：a.內(nèi)部漏電，b.內(nèi)部開(kāi)路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 容漏電。這里漏電現(xiàn)象，用<測(cè)試儀>的VI曲線(xiàn)應(yīng)能測(cè)出。
3、整板測(cè)試時(shí)可采用兩種判斷方法：a.測(cè)試時(shí)晶振附近既周?chē)挠嘘P(guān) 芯片不通過(guò)。b.除晶振外沒(méi)找到其它故障點(diǎn)。
4、晶振常見(jiàn)有2種：a.兩腳。b.四腳，其中第2腳是加電源的，注意不可隨 意短路。
一、帶程序的芯片
1、EPROM芯片一般不宜損壞。因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序， 故在測(cè)試中不會(huì)損壞程序。但有資料介紹：因制作芯片的材料所致，隨著時(shí)間的推移（年頭長(zhǎng)了），即便不用也有可能損壞（主要指程序）。所以要 盡可能給以備份。
2、EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片，均極易破壞程序。這類(lèi)芯片 是否在使用<測(cè)試儀>進(jìn)行VI曲線(xiàn)掃描后，是否就破壞了程序，還未有定論。盡管如此，同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí)，還是小心為妙。筆者曾經(jīng)做過(guò) 多次試驗(yàn)，可能大的原因是：檢修工具（如測(cè)試儀，電烙鐵等）的外殼漏電 所致。
3、對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來(lái)。
二、復(fù)位電路
1、待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí)，應(yīng)注意復(fù)位問(wèn)題。
2、在測(cè)試前最好裝回設(shè)備上，反復(fù)開(kāi)，關(guān)機(jī)器試一試。以及多按幾次復(fù)位鍵。
三、功能與參數(shù)測(cè)試
1、<測(cè)試儀>對(duì)器件的檢測(cè)，僅能反應(yīng)出截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)。但不 能測(cè)出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等。
2、同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言，也只能知道有高低電平的輸出變化。而無(wú) 法查出它的上升與下降沿的速度。
四、晶體振蕩器
1、通常只能用示波器（晶振需加電）或頻率計(jì)測(cè)試，萬(wàn)用表等無(wú)法測(cè)量， 否則只能采用代換法了。
2、晶振常見(jiàn)故障有：a.內(nèi)部漏電，b.內(nèi)部開(kāi)路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 容漏電。這里漏電現(xiàn)象，用<測(cè)試儀>的VI曲線(xiàn)應(yīng)能測(cè)出。
3、整板測(cè)試時(shí)可采用兩種判斷方法：a.測(cè)試時(shí)晶振附近既周?chē)挠嘘P(guān) 芯片不通過(guò)。b.除晶振外沒(méi)找到其它故障點(diǎn)。
4、晶振常見(jiàn)有2種：a.兩腳。b.四腳，其中第2腳是加電源的，注意不可隨 意短路。
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